冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化的实验方法[CN201810979530.3] - 西南交通大学

专利申请

2018-08-24
公布公告

2019-09-06
授权日期

2019-09-06
终止

2029-09-03

冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化的实验方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201810979530.3 申请日期： 2018-08-24 专利主类别： G01R31/12 {{ classMap["G01R31/12"] }}

申请人名称：西南交通大学

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申请人地址：四川省成都市高新区西部园区西南交通大学科学技术发展研究院

专利分类项目

G01R31/12 : 测试介电强度或击穿电压

G01R1/28 : 在测量仪器中提供基准值的设备，例如提供标准电压、标准波形

专利注册信息

初审公告期号	2018-08-24	初审公告日期	2019-09-06
注册公告期号	2019-09-06	注册公告日期	2019-09-06
专用权期限	2019-09-06 - 2029-09-03	专利类型	发明授权
代理组织机构	成都盈信专利代理事务所查看该机构代理的所有专利

专利介绍

本发明公开了一种冲击负荷下套管电容芯子不均匀热老化的实验方法，首先搭建实验平台，然后通过实验平台施加冲击负荷模拟套管电容芯子的热冲击，开启介损测试仪，测试电容芯子每层间的介损值，并将测试数据上传至终端机存储，采用最小二乘法将不同层间的介损值拟合为一条函数曲线，对函数曲线分段积分，计算电容芯子总体的不均匀热老化程度参数，该实验方法模拟了冲击负荷下套管电容芯子的不均匀热老化，并可有效判定套管电容芯子的不均匀热老化程度。

法律进度