绕组主绝缘温度梯度与频率响应关联性测试装置[CN201710338343.2] - 西南交通大学

专利申请

2017-05-15
公布公告

2018-05-08
授权日期

2018-05-08
终止

2028-05-05

绕组主绝缘温度梯度与频率响应关联性测试装置

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201710338343.2 申请日期： 2017-05-15 专利主类别： G01R31/12 {{ classMap["G01R31/12"] }}

申请人名称：西南交通大学

查看申请人名下所有专利

申请人地址：四川省成都市高新西区西部园区西南交通大学科学技术发展研究院

专利分类项目

G01R31/12 : 测试介电强度或击穿电压

专利注册信息

初审公告期号	2017-05-15	初审公告日期	2018-05-08
注册公告期号	2018-05-08	注册公告日期	2018-05-08
专用权期限	2018-05-08 - 2028-05-05	专利类型	发明授权
代理组织机构	成都盈信专利代理事务所查看该机构代理的所有专利

专利介绍

本发明涉及一种绕组主绝缘温度梯度与频率响应关联性测试装置，包括实验箱、高压侧直流电源模块、低压侧直流电源模块、流速控制采集模块、实验箱、温度传感器、温度采集模块、介电谱测试仪及计算机，其中，高压绕组、低压绕组和绕组主绝缘位于实验箱内。本发明通过高、低压侧直流电源模块的各段输出功率，模拟变压器在实际负载损耗下绕组主绝缘的温度梯度分布，运用介电谱测试仪测量绕组的频率响应，通过计算机数据处理，探究绕组主绝缘的温度梯度和频率响应之间的关联性，有助于进一步了解变压器内部的绝缘状态。

法律进度