一种变压器绝缘在绕组非均匀损耗下的热老化实验装置[CN201710339601.9] - 西南交通大学

专利申请

2017-05-15
公布公告

2017-09-22
授权日期

2018-04-13
终止

2027-09-20

一种变压器绝缘在绕组非均匀损耗下的热老化实验装置

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201710339601.9 申请日期： 2017-05-15 专利主类别： G01R31/12 {{ classMap["G01R31/12"] }}

申请人名称：西南交通大学

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申请人地址：四川省成都市高新西区西部园区西南交通大学科学技术发展研究院

专利分类项目

G01R31/12 : 测试介电强度或击穿电压

专利注册信息

初审公告期号	2017-05-15	初审公告日期	2017-09-22
注册公告期号	2018-04-13	注册公告日期	2018-04-13
专用权期限	2017-09-22 - 2027-09-20	专利类型	发明公开
代理组织机构	成都盈信专利代理事务所查看该机构代理的所有专利

专利介绍

本发明公开了一种用于模拟变压器绝缘在绕组非均匀损耗下的热老化实验装置，主要由高压绕组(1)、低压绕组(2)、绕组主绝缘(3)、高压侧直流电源模块(4)、低压侧直流电源模块(5)、流速控制采集模块(6)以及实验箱(7)组成。本发明能够模拟变压器绝缘在绕组非均匀损耗下的热老化，有助于研究变压器在实际运行损耗下的热老化情况，以便进一步了解变压器的绝缘状态。

法律进度