基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法[CN201610348998.3] - 哈尔滨工业大学

专利申请

2016-05-24
公布公告

2019-01-08
授权日期

2019-01-08
终止

2029-01-05

基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201610348998.3 申请日期： 2016-05-24 专利主类别： G06T3/40 {{ classMap["G06T3/40"] }}

申请人名称：哈尔滨工业大学

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申请人地址：黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

专利分类项目

G06T3/40 : 整个或部分图形的定标

G06F17/50 :

专利注册信息

初审公告期号	2016-05-24	初审公告日期	2019-01-08
注册公告期号	2019-01-08	注册公告日期	2019-01-08
专用权期限	2019-01-08 - 2029-01-05	专利类型	发明授权
代理组织机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所查看该机构代理的所有专利

专利介绍

基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置及其重建方法，属于红外光学成像领域。目前缺少通过微透镜阵列测量光场信号的技术方法。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建装置，数据采集处理系统(7)连接激光控制器(1)和三个微透镜阵列光场相机；激光控制器(1)连接激光头(2)，激光头(2)和三个微透镜阵列光场相机围成的区域中心设置弥散介质(3)。基于微透镜阵列与脉冲激光的弥散介质光学参数场重建方法，包括介质边界出射辐射测量、近红外脉冲激光在弥散介质的传输计算、光学参数场重建环节。本发明实现对弥散介质光学参数场的重建，为近红外光学成像和红外探测技术提供新的技术手段。

法律进度