基于光学显微的一点应变测量方法[CN202310167033.4] - 中国矿业大学

专利申请

2023-02-27
公布公告

2023-04-11
授权日期

2023-10-03
终止

2033-04-08

基于光学显微的一点应变测量方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN202310167033.4 申请日期： 2023-02-27 专利主类别： G01B11/16 {{ classMap["G01B11/16"] }}

申请人名称：中国矿业大学

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申请人地址：江苏省徐州市泉山区大学路1号中国矿业大学

专利分类项目

G01B11/16 : 用于计量固体的变形，例如光学应变仪

专利注册信息

初审公告期号	2023-02-27	初审公告日期	2023-04-11
注册公告期号	2023-10-03	注册公告日期	2023-10-03
专用权期限	2023-04-11 - 2033-04-08	专利类型	发明公开
代理组织机构	北京盛广信合知识产权代理有限公司查看该机构代理的所有专利

专利介绍

本发明公开了一种基于光学显微的一点应变测量方法，包括：基于光学显微设备对介质被测点进行高倍率放大摄像或拍照，获得被测点局部范围高像素细观特征图像，在图像中选择若干个特征点，将特征点相连获得特征线段；测量特征线段在初始时刻的线段长度及其与坐标轴正方向夹角，计算夹角的余弦值；测量特征线段在后续某一时刻的线段长度，计算特征线段相比于初始时刻长度的相对变化量；基于一点的应变状态与该点任意方向正应变之间的关系式计算被测点的应变，获得应变测量结果。本发明解决了电阻式应变测量方法应变片覆盖面积大、环境适应性差、测试精度低、不适用用导电液体环境等问题。

法律进度