高低温箱内被测件变形量的高精度测量系统[CN201110370274.6] - 浙江工业大学

专利申请

2011-11-18
公布公告

2012-04-11
授权日期

2013-06-05
终止

2022-04-09

高低温箱内被测件变形量的高精度测量系统

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201110370274.6 申请日期： 2011-11-18 专利主类别： G01B11/16 {{ classMap["G01B11/16"] }}

申请人名称：浙江工业大学

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申请人地址：浙江省杭州市下城区朝晖六区

专利分类项目

G01B11/16 : 用于计量固体的变形，例如光学应变仪

专利注册信息

初审公告期号	2011-11-18	初审公告日期	2012-04-11
注册公告期号	2013-06-05	注册公告日期	2013-06-05
专用权期限	2012-04-11 - 2022-04-09	专利类型	发明公开
代理组织机构	杭州天正专利事务所有限公司查看该机构代理的所有专利

专利介绍

一种高低温箱内被测件变形量的高精度测量系统，测量系统包括细绳、三维气浮组件和三个方向的激光位移光电编码测量模块，各个气浮单元均包括气浮轴和气浮套，三个方向的激光位移光电编码测量模块分别安装在x向气浮单元、y向气浮单元和z向气浮单元上；x向气浮轴安装在固定板上，x向气浮套可滑动地安装在x向气浮轴上，x向气浮套与y向气浮轴固定连接，y向气浮套可滑动地安装在y向气浮轴上，y向气浮套与z向气浮套固定连接，z向气浮轴可滑动地安装在z向气浮套上；细绳的上端与被测件连接，细绳的下端与三维气浮组件的z向气浮轴连接。本发明提供一种测量精度高的高低温箱内被测件变形量的高精度测量系统。

法律进度