一种利用马赫-曾德尔干涉仪结构的微波光子滤波器测量液体折射率的装置及方法[CN202111207064.5] - 上海第二工业大学

专利申请

2021-10-10
公布公告

2024-06-04
授权日期

2024-06-04
终止

2034-06-02

一种利用马赫-曾德尔干涉仪结构的微波光子滤波器测量液体折射率的装置及方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN202111207064.5 申请日期： 2021-10-10 专利主类别： G01N21/45 {{ classMap["G01N21/45"] }}

申请人名称：上海第二工业大学

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申请人地址：上海市浦东新区金海路2360号

专利分类项目

G01N21/45 : 利用干涉量度法，利用纹影方法

专利注册信息

初审公告期号	2021-10-10	初审公告日期	2024-06-04
注册公告期号	2024-06-04	注册公告日期	2024-06-04
专用权期限	2024-06-04 - 2034-06-02	专利类型	发明授权
代理组织机构	--

专利介绍

本发明公开了一种利用马赫‑曾德尔干涉仪结构的微波光子滤波器测量液体折射率的装置及方法。该装置包括宽谱光源、电光调制器、两个2×2的光学耦合器、两根传输光纤、光电探测器、频谱分析模块。待测液体位于马赫‑曾德尔干涉仪结构的一个臂上，当待测液体折射率发生改变时，微波光子滤波器的频率谐振曲线陷波深度将会改变。本发明提供的一种利用马赫‑曾德尔干涉仪结构的微波光子滤波器测量液体折射率的装置及方法，通过外调制的方法对输出光进行调制，使用宽谱光源，降低了光源要求，同时不需要使用光谱仪对波长进行解调，减少了系统成本，可实现长距离的液体折射率检测，可以应用于海洋盐度检测，湖泊中盐度的检测等。

法律进度