基于自干涉型微谐振腔光传感器的高灵敏度强度探测方法[CN201610026981.6] - 浙江工业大学

专利申请

2016-01-15
公布公告

2016-06-15
授权日期

2019-03-12
终止

2026-06-13

基于自干涉型微谐振腔光传感器的高灵敏度强度探测方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201610026981.6 申请日期： 2016-01-15 专利主类别： G01N21/45 {{ classMap["G01N21/45"] }}

申请人名称：浙江工业大学

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申请人地址：浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号浙江工业大学

专利分类项目

G01N21/45 : 利用干涉量度法，利用纹影方法

专利注册信息

初审公告期号	2016-01-15	初审公告日期	2016-06-15
注册公告期号	2019-03-12	注册公告日期	2019-03-12
专用权期限	2016-06-15 - 2026-06-13	专利类型	发明公开
代理组织机构	杭州斯可睿专利事务所有限公司查看该机构代理的所有专利

专利介绍

一种基于自干涉型微谐振腔光传感器的高灵敏度强度探测方法，出射频谱拥有与单波导耦合到微环谐振腔类似的频谱，该传输谱是传输谷值具有周期性分布的频谱；将被测物质覆盖在光探测臂波导的上表面，光从输入波导的一端入射，与微环谐振腔发生耦合，则一部分耦合进入微环谐振腔；另一部分从输入波导的另一端出射并经过光探测臂进入输出波导，这部分中一部分光由于输出波导与微谐振腔之间的耦合作用，再次耦合进入微谐振腔，而这部分中一部分光与微环谐振腔中耦合出的一部分光相干涉后从输出波导另一端出射；通过测试谐振波长处传输强度的变化即可实现高灵敏度传感。本发明在保持极高灵敏度的前提下避免要求很高精度的频率定位、降低测试系统成本。

法律进度