一种高精度激光调制干涉空气折射率绝对测量装置及方法[CN201910661278.6] - 浙江理工大学

专利申请

2019-07-22
公布公告

2022-08-09
授权日期

2022-08-09
终止

2032-08-06

一种高精度激光调制干涉空气折射率绝对测量装置及方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201910661278.6 申请日期： 2019-07-22 专利主类别： G01N21/45 {{ classMap["G01N21/45"] }}

申请人名称：浙江理工大学

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申请人地址：浙江省杭州市江干经济开发区2号大街928号

专利分类项目

G01N21/45 : 利用干涉量度法，利用纹影方法

G01N21/01 : 便于进行光学测试的装置或仪器

专利注册信息

初审公告期号	2019-07-22	初审公告日期	2022-08-09
注册公告期号	2022-08-09	注册公告日期	2022-08-09
专用权期限	2022-08-09 - 2032-08-06	专利类型	发明授权
代理组织机构	杭州求是专利事务所有限公司查看该机构代理的所有专利

专利介绍

本发明公开了一种高精度激光调制干涉空气折射率绝对测量装置及方法。单频激光器输出的激光经光隔离和正弦相位调制后，由侧向位移分光镜分成两平行光束，射向正弦相位调制干涉仪获得测量和补偿干涉信号，由两个探测器接收；长度可变真空腔放置在正弦相位调制干涉仪的测量光路中与光线传播方向平行，两平行光束分别经过真空腔内部真空光路和外部空气光路；测量时，直线位移工作台带动运动透光窗移动距离，实时计算两路干涉信号相位变化量，求出空气折射率。本发明测量精度高，抗环境干扰能力强，可广泛应用于激光干涉精密测量技术领域。

法律进度