一种芯片性能测试方法、装置及系统[CN201610126052.2] - 深圳市汇顶科技股份有限公司

专利申请

2016-03-04
公布公告

2020-01-03
授权日期

2020-01-03
终止

2029-12-31

一种芯片性能测试方法、装置及系统

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201610126052.2 申请日期： 2016-03-04 专利主类别： G01R31/28 {{ classMap["G01R31/28"] }}

申请人名称：深圳市汇顶科技股份有限公司

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申请人地址：广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层

专利分类项目

G01R31/28 : 电路的测试，例如用信号故障寻测器

专利注册信息

初审公告期号	2016-03-04	初审公告日期	2020-01-03
注册公告期号	2020-01-03	注册公告日期	2020-01-03
专用权期限	2020-01-03 - 2029-12-31	专利类型	发明授权
代理组织机构	北京龙双利达知识产权代理有限公司查看该机构代理的所有专利

专利介绍

本发明公开了一种芯片性能测试方法、装置及系统，该方法包括：当接收到对待测试芯片进行测试的测试指令时，信号产生单元根据该测试指令产生指定类型的测试信号，并输出该测试信号，信号连接单元根据测试内容通过开关组件的开合状态，形成将该测试信号输入到信号接收处理单元的闭合回路，当该信号接收处理单元接收到从该闭合回路输入的该测试信号时，对该测试信号进行处理得到结果数据，该结果数据用于与预置判定数据进行比较，以得出与测试内容对应的的测试结果。本发明可在该待测试芯片的内部实现对芯片性能的测试，提高测试结果的准确性，并降低测试成本。

法律进度