一种检测用多层微流控芯片的使用方法[CN201811028317.0] - 重庆科技学院

专利申请

2018-09-04
公布公告

2023-06-06
授权日期

2023-06-06
终止

2033-06-03

一种检测用多层微流控芯片的使用方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201811028317.0 申请日期： 2018-09-04 专利主类别： B01L3/00 {{ classMap["B01L3/00"] }}

申请人名称：重庆科技学院

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申请人地址：重庆市沙坪坝区大学城东路20号

专利分类项目

B01L3/00 : 实验室用的容器或器皿，如实验室玻璃仪器

G01N21/78 : 产生颜色变化

专利注册信息

初审公告期号	2018-09-04	初审公告日期	2023-06-06
注册公告期号	2023-06-06	注册公告日期	2023-06-06
专用权期限	2023-06-06 - 2033-06-03	专利类型	发明授权
代理组织机构	--

专利介绍

本发明提供了一种检测用多层微流控芯片的使用方法，其特征在于，使用方法包含如下步骤：第一步选择芯片规格；第二步芯片准备；第三步组装密闭；第四步加样检测；第五步拆卸清洗。本发明的有益效果是，芯片规格多，能够满足多种重金属同时检测的需要，芯片组装方便，实验方法简单；芯片拆卸操作容易，方便清洗和更换过滤装置等，有利于现场检测。

法律进度