一种基于协同迁移的软件缺陷预测方法[CN201711417594.6] - 浙江工业大学

专利申请

2017-12-25
公布公告

2018-07-20
授权日期

2021-04-06
终止

2028-07-17

一种基于协同迁移的软件缺陷预测方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201711417594.6 申请日期： 2017-12-25 专利主类别： G06F11/36 {{ classMap["G06F11/36"] }}

申请人名称：浙江工业大学

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申请人地址：浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号

专利分类项目

G06F11/36 : 通过软件的测试或调试防止错误

G06K9/62 : 应用电子设备进行识别的方法或装置

专利注册信息

初审公告期号	2017-12-25	初审公告日期	2018-07-20
注册公告期号	2021-04-06	注册公告日期	2021-04-06
专用权期限	2018-07-20 - 2028-07-17	专利类型	发明公开
代理组织机构	杭州斯可睿专利事务所有限公司查看该机构代理的所有专利

专利介绍

一种基于协同迁移的软件缺陷预测方法，包括以下步骤：1)通过四种不同的标准化方法与TCA迁移学习方法同时结合，将原源项目数据集扩充进四个的新的同等规模源项目数据集；2)利用基于协同迁移的软件缺陷预测算法对目标项目构建协同分类器；3)对目标项目中新的待预测样本进行缺陷预测。本发明选取四种不同的标准化方法同时与TCA迁移学习方法结合来扩充源项目数据集，丰富了源项目数据的信息表达，为每一个源项目生成一个子分类器，并依据PSO算法对子分类器进行自适应权重分配，从而构建协同分类器，对目标项目中的待测样本进行缺陷预测。

法律进度