• 专利申请
    2018-11-19
  • 公布公告
    2020-11-27
  • 授权日期
    2020-11-27
  • 终止
    2030-11-25
一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法
一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 有效专利
CN201811377326.0 2018-11-19 G01K11/00 {{ classMap["G01K11/00"] }}
哈尔滨工业大学 查看申请人名下所有专利
黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
专利分类项目

G01K11/00 : 不包括在G01K 3/00，G01K 5/00，G01K 7/00或G01K 9/00各组的以物理或化学变化为基础的温度测量

专利注册信息
初审公告期号 2018-11-19 初审公告日期 2020-11-27
注册公告期号 2020-11-27 注册公告日期 2020-11-27
专用权期限 2020-11-27 - 2030-11-25 专利类型 发明授权
代理组织机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法，本发明涉及一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法。本发明的目的是为了解决现有的稀土离子荧光强度测温技术在较高温度区间内的相对灵敏度会急剧衰减的问题，本发明在303到783K的温度范围内，记录稀土Tb3+离子在氙灯经过分光后的310nm和378nm的光源激发下所发出的中心波长位于545nm的绿色荧光的强度比，该强度比和温度之间的函数关系即为测温曲线，可以用来测量未知环境的温度。基于该方法，能够在较高温度区间内获得更加灵敏的温度响应，明显优于目前常规光学方法所能达到的灵敏度，本发明应用于荧光强度比测温领域。
法律进度

  • 2020-11-27 授权 ...

  • 2019-04-23 实质审查的生效 IPC(主分类): G01K 11/00 专利申请号: 201811377326.0 申请日: 2018. ...

  • 2019-03-29 公开 ...

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