• 专利申请
    2018-03-22
  • 公布公告
    2019-10-22
  • 授权日期
    2019-10-22
  • 终止
    2029-10-19
一种提高荧光强度比技术测温精度的方法
一种提高荧光强度比技术测温精度的方法
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 有效专利
CN201810241003.2 2018-03-22 G01K11/00 {{ classMap["G01K11/00"] }}
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黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
专利分类项目

G01K11/00 : 不包括在G01K 3/00，G01K 5/00，G01K 7/00或G01K 9/00各组的以物理或化学变化为基础的温度测量

专利注册信息
初审公告期号 2018-03-22 初审公告日期 2019-10-22
注册公告期号 2019-10-22 注册公告日期 2019-10-22
专用权期限 2019-10-22 - 2029-10-19 专利类型 发明授权
代理组织机构 哈尔滨市松花江专利商标事务所 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
一种提高荧光强度比技术测温精度的方法，本发明涉及一种提高荧光强度比技术测温精度的方法。本发明的目的是为了解决目前常用的荧光强度比技术测温精度较低的问题，具体的内容包括：(1)选取稀土离子热耦合能级对；(2)利用分段拟合的方法对这两个荧光带的强度比值进行标定，再利用玻尔兹曼热统计分布理论对荧光强度比值和温度之间的关系进行拟合，每个温度区间均得到一个拟合函数；(3)根据适合的拟合函数计算待测温度值。本发明利用分段拟合的思想能够将测温精度提高至少一个数量级。本发明能够切实解决荧光强度比技术中传统的整体拟合方法测温精度较低的弊端，显著提高荧光强度比技术的测温精度，本发明应用于稀土荧光测温领域。
法律进度

  • 2023-03-31 专利权的转移 登记生效日: 2023.03.20 专利权人由黑龙江省工业技术研究院变更为黑龙江省工研院资产经营管理有限公司 ...

  • 2021-02-05 专利权的转移 登记生效日: 2021.01.22 专利权人由哈尔滨工业大学变更为黑龙江省工业技术研究院 地址由150001 ...

  • 2019-10-22 授权 ...

  • 2018-09-28 实质审查的生效 IPC(主分类): G01K 11/00 专利申请号: 201810241003.2 申请日: 2018. ...

  • 2018-09-04 公开 ...

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