• 专利申请
    2017-04-27
  • 公布公告
    2018-05-08
  • 授权日期
    2018-05-08
  • 终止
    2028-05-05
一种光多参量传感CMOS单片集成电路
一种光多参量传感CMOS单片集成电路
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 有效专利
CN201710286842.1 2017-04-27 G01J1/44 {{ classMap["G01J1/44"] }}
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浙江省杭州市下城区潮王路18号浙江工业大学科技处
专利分类项目

G01J1/44 : 电路

G01J9/00 : 测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长

专利注册信息
初审公告期号 2017-04-27 初审公告日期 2018-05-08
注册公告期号 2018-05-08 注册公告日期 2018-05-08
专用权期限 2018-05-08 - 2028-05-05 专利类型 发明授权
代理组织机构 杭州天正专利事务所有限公司 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
一种光多参量传感CMOS单片集成电路，由BDJ光电传感选择单元、电流电压线性转换电路、相关二次采样电路、差分放大输出电路、模式时序控制电路。本发明提出的光多参量传感集成电路，与掩埋CMOS双PN结光电二极管单片集成，可实现光波长和光强度参量的实时监测，具有误差小，精度高，检测范围宽，电路体积小、功耗低等优势，可广泛应用于光多参量监测的场合。
法律进度

  • 2018-05-08 授权 ...

  • 2017-08-29 实质审查的生效 IPC(主分类): G01J 1/44 专利申请号: 201710286842.1 申请日: 2017.0 ...

  • 2017-08-04 公开 ...

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