• 专利申请
    2017-04-10
  • 公布公告
    2018-08-21
  • 授权日期
    2018-08-21
  • 终止
    2028-08-18
一种基于BDJ的可数字化波长检测集成电路
一种基于BDJ的可数字化波长检测集成电路
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 有效专利
CN201710227331.2 2017-04-10 G01J1/44 {{ classMap["G01J1/44"] }}
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浙江省杭州市下城区潮王路18号浙江工业大学科技处
专利分类项目

G01J1/44 : 电路

专利注册信息
初审公告期号 2017-04-10 初审公告日期 2018-08-21
注册公告期号 2018-08-21 注册公告日期 2018-08-21
专用权期限 2018-08-21 - 2028-08-18 专利类型 发明授权
代理组织机构 杭州天正专利事务所有限公司 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
基于BDJ的可数字化波长检测集成电路，由光电流提取电路一、光电流提取电路二、电流支路选择电路、电流输出放大电路、电流电压转换电路、电压比较电路一、电压比较电路二、SR锁存器；掩埋CMOS双PN结光电二极管包含2个不同深度位置的PN结，且两PN结共用一个N结，即由浅PN结二极管D1和深PN结二极管D2组成，D1与D2共阴极连接；其中，深PN结D2阳极接地，输出光电流I2，浅PN结D1阳极输出光电流I1，D1与D2阴极输出两个PN结的光电流之和I1+I2；光电流提取电路一的输入端1a与浅PN结D1阳极相连，输出端与电流支路选择电路的第一输入端相连。
法律进度

  • 2018-08-21 授权 ...

  • 2017-10-10 实质审查的生效 IPC(主分类): G01J 1/44 专利申请号: 201710227331.2 申请日: 2017.0 ...

  • 2017-09-12 公开 ...

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