基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法[CN201610330924.7] - 哈尔滨工业大学

专利申请

2016-05-18
公布公告

2018-12-11
授权日期

2018-12-11
终止

2028-12-08

基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201610330924.7 申请日期： 2016-05-18 专利主类别： G01N21/17 {{ classMap["G01N21/17"] }}

申请人名称：哈尔滨工业大学

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申请人地址：黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

专利分类项目

G01N21/17 : 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统

专利注册信息

初审公告期号	2016-05-18	初审公告日期	2018-12-11
注册公告期号	2018-12-11	注册公告日期	2018-12-11
专用权期限	2018-12-11 - 2028-12-08	专利类型	发明授权
代理组织机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所查看该机构代理的所有专利

专利介绍

基于光场相机与调频激光的弥散介质光学参数分布的重建探测装置及重建方法，涉及弥散介质光学参数分布的重建探测装置和光学参数分布的重建方法。为了解决传统接触式测量的光学系数重建过程中存在的装置复杂和无法区分各个方向的辐射强度信号的问题。弥散介质光学参数分布的重建探测装置包括激光控制器、激光头、至少一个光场相机和数据采集处理系统；本发明利用光场相机获取调频激光作用下弥散介质边界各个方向上的辐射强度信息，通过模拟弥散介质内的红外辐射传输过程，并结合最优化方法，重建得到介质内部的吸收、散射系数分布图像，从而探测得到弥散介质的内部结构。本发明适用于弥散介质光学参数分布的重建领域。

法律进度