采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置[CN201510762225.5] - 哈尔滨工业大学

专利申请

2015-11-10
公布公告

2018-09-11
授权日期

2018-09-11
终止

2028-09-08

采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201510762225.5 申请日期： 2015-11-10 专利主类别： G01N21/17 {{ classMap["G01N21/17"] }}

申请人名称：哈尔滨工业大学

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申请人地址：黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

专利分类项目

G01N21/17 : 入射光根据所测试的材料性质而改变的系统

G01N21/31 : 测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应，例如原子吸收光谱术

G01N21/03 : 透明小容器结构

专利注册信息

初审公告期号	2015-11-10	初审公告日期	2018-09-11
注册公告期号	2018-09-11	注册公告日期	2018-09-11
专用权期限	2018-09-11 - 2028-09-08	专利类型	发明授权
代理组织机构	哈尔滨市松花江专利商标事务所查看该机构代理的所有专利

专利介绍

采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置，属于光声光谱技术和漫反射积分腔应用技术领域。本发明是为了解决光声光谱技术在对气体进行检测时，传统光声池光能的利用率较低的问题。本发明所述的采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置，在继承传统光声光谱技术优势的基础上，将生产工艺简单、价格低廉的高漫反射长方腔应用于光声光谱痕量气体探测中，通过延长光程，从而提高了气体测量的灵敏度，提高了光能的利用率，进而降低了气体浓度测量系统的成本，并具有响应速度快、稳定性好、维护简单、可实时监测等优点。本发明可对低浓度气体进行实时监测。

法律进度