• 专利申请
    2020-11-09
  • 公布公告
    2022-07-15
  • 授权日期
    2022-07-15
  • 终止
    2032-07-12
非理想多指数衰减正弦信号的欠Nyquist采样与参数测量方法
非理想多指数衰减正弦信号的欠Nyquist采样与参数测量方法
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 有效专利
CN202011238816.X 2020-11-09 G01R23/02 {{ classMap["G01R23/02"] }}
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浙江省杭州市下城区朝晖六区潮王路18号
专利分类项目

G01R23/02 : 频率测量装置，如脉冲重复率的测量；电流或电压周期的测量装置

G06F17/11 :

G06F17/16 :

G06F17/18 :

G06F30/20 :

专利注册信息
初审公告期号 2020-11-09 初审公告日期 2022-07-15
注册公告期号 2022-07-15 注册公告日期 2022-07-15
专用权期限 2022-07-15 - 2032-07-12 专利类型 发明授权
代理组织机构 杭州斯可睿专利事务所有限公司 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
一种非理想多指数衰减正弦信号的欠Nyquist采样与参数测量方法，首先将生成的MEDS信号分流至两条并行通道中，在第一条通道中对信号进行采样，并运行振幅和分量个数最优估计算法，得到相应的估计值，与此同时，在第二条通道中也对信号进行采样，但是该通道中的采样时钟的上升沿与第一条通道中的采样时钟的上升沿相差，Te≤1/fmax，fmax是信号的最大频率，然后运行复频率联合估计算法，得到相应的估计值，从而完成MEDS信号的参数测量。本发明能够适用于频率分量个数未知和模型不匹配的非理想信号环境，且信号重构精度优于现有方法。
法律进度

  • 2022-07-15 授权 ...

  • 2021-04-23 实质审查的生效 IPC(主分类): G01R 23/02 专利申请号: 202011238816.X 申请日: 2020.11 ...

  • 2021-04-02 公开 ...

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