• 专利申请
    2018-12-26
  • 公布公告
    2019-10-18
  • 授权日期
    2019-10-18
  • 终止
    2024-06-25
一种薄壁成型件π尺测量配合装置
一种薄壁成型件π尺测量配合装置
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 失效专利
CN201822205638.5 2018-12-26 G01B5/08 {{ classMap["G01B5/08"] }}
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浙江省杭州市下城区潮王路18号
专利分类项目

G01B5/08 : 用于计量直径

专利注册信息
初审公告期号 2018-12-26 初审公告日期 2019-10-18
注册公告期号 2019-10-18 注册公告日期 2019-10-18
专用权期限 2019-10-18 - 2024-06-25 专利类型 实用新型
代理组织机构 杭州天正专利事务所有限公司 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
一种薄壁成型件π尺测量配合装置，连接件的顶部设有挂钩，连接件的底部固定有轴心，轴心上可转动地同轴套设有卷轴；刻度尺的左右两侧自底端至顶端均间隔设有若干个用于计量长度的刻度槽，刻度尺左右两侧的刻度槽对称设置；刻度尺的顶端穿过连接件的底面与卷轴之间的间隙并可移动地缠绕在卷轴上，且装置还包括用于将刻度尺的顶端锁定在卷轴上的锁定件；刻度尺的底端竖直向下延伸并固定连接有π尺固定件，π尺固定件上开设有供π尺贯穿的通道，通道沿左右方向水平贯通，且通道与刻度尺相垂直。锁定件锁定刻度尺在卷轴上的位置后再一一测量各待测薄壁成型件，可控制π尺位于同一测量基准面，从而确保各待测薄壁成型件的测量位置的一致性。
法律进度

  • 2024-06-25 未缴年费专利权终止 IPC(主分类): G01B 5/08 专利号: ZL 201822205638.5 申请日: 2018.12 ...

  • 2019-10-18 授权 ...

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