• 专利申请
    2016-02-02
  • 公布公告
    2020-05-22
  • 授权日期
    2020-05-22
  • 终止
    2030-05-20
数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法
数据采集芯片的测试系统、装置及其控制方法
* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。 有效专利
CN201610074545.6 2016-02-02 G01R29/26 {{ classMap["G01R29/26"] }}
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广东省深圳市福田保税区腾飞工业大厦B座13层
专利分类项目

G01R29/26 : 噪声值的测量；信噪比的测量

G01R31/28 : 电路的测试，例如用信号故障寻测器

专利注册信息
初审公告期号 2016-02-02 初审公告日期 2020-05-22
注册公告期号 2020-05-22 注册公告日期 2020-05-22
专用权期限 2020-05-22 - 2030-05-20 专利类型 发明授权
代理组织机构 北京龙双利达知识产权代理有限公司 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
本发明公开了一种数据采集芯片的测试装置及其控制方法，该装置包括：接收数据采集芯片采集的多帧采样数据的数据采集模块；存储模块；计算多个数据采样点的噪声，以得到噪声测试结果的处理模块；将所述噪声测试结果上传的数据收发模块；控制模块。本发明实施例的测试装置，通过计算多个数据采样点的噪声，从而只需上传噪声测试结果，提高了芯片测试的效率，降低了芯片测试的成本，更好地保证测试的可靠性。本发明还公开了一种数据采集芯片的测试系统。
法律进度

  • 2020-05-22 授权 ...

  • 2017-09-01 实质审查的生效 IPC(主分类): G01R 29/26 专利申请号: 201610074545.6 申请日: 2016. ...

  • 2017-08-08 公开 ...

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