用于颗粒力链观测的磨粒约束装置[CN201420630569.1] - 浙江工业大学

专利申请

2014-10-28
公布公告

2015-03-04
授权日期

2015-03-04
终止

2025-03-01

用于颗粒力链观测的磨粒约束装置

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201420630569.1 申请日期： 2014-10-28 专利主类别： G01N3/08 {{ classMap["G01N3/08"] }}

申请人名称：浙江工业大学

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申请人地址：浙江省杭州市下城区潮王路18号

专利分类项目

G01N3/08 : 施加稳定的张力或压力

G01N15/00 : 测试颗粒的特性；测试多孔材料的渗透性，孔隙体积或者孔隙表面积

专利注册信息

初审公告期号	2014-10-28	初审公告日期	2015-03-04
注册公告期号	2015-03-04	注册公告日期	2015-03-04
专用权期限	2015-03-04 - 2025-03-01	专利类型	实用新型
代理组织机构	杭州天正专利事务所有限公司查看该机构代理的所有专利

专利介绍

用于颗粒力链观测的磨粒约束装置，包括上透明层、下透明层、夹在上下透明层之间的中层磨粒约束模块、多个用于测定磨粒受力状态的应力传感器、控制器，中层磨粒约束模块包括用于容纳光弹颗粒的腔体、挡板、施力机构，腔体侧面带有缺口；挡板安装在腔体缺口处；腔体底部装有施力机构，施力机构的挤压部贯穿腔体的底板后与光弹颗粒接触；上透明板、下透明板、施力机构的挤压部、腔体以及挡板共同围成容纳光弹颗粒的中层封闭容纳腔；中层磨粒约束模块配置多个应力传感器，应力传感器与控制器的信号输入端相连、施力机构与控制器的信号输出端相连。本实用新型的有益效果在于：适用于针对光弹颗粒的力链采集，并可根据加工对象的不同进行形状的调整。

法律进度

2015-03-04 授权 ...

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