低轨空间碎片超低色散光谱特征获取方法[CN201310165212.0] - 浙江工业大学

低轨空间碎片超低色散光谱特征获取方法

* 专利信息仅供参考，不具有法律效力。有效专利

注册号： CN201310165212.0 申请日期： 2013-05-07 专利主类别： G01N21/27 {{ classMap["G01N21/27"] }}

申请人名称：浙江工业大学

申请人地址：浙江省杭州市下城区潮王路18号

专利分类项目

专利注册信息

初审公告期号	2013-05-07	初审公告日期	2013-11-27
注册公告期号	2015-10-07	注册公告日期	2015-10-07
专用权期限	2013-11-27 - 2023-11-25	专利类型	发明公开
代理组织机构	杭州天正专利事务所有限公司查看该机构代理的所有专利

专利介绍

低轨空间碎片超低色散光谱特征获取方法,包括如下步骤：步骤1，获取图像光谱；步骤2，对步骤1获得的图像光谱进行一维光谱抽取；步骤3，对空间碎片一维光谱进行波长标定；步骤4，对空间碎片一维光谱进行流量标定，得到空间碎片超低色散特征。

法律进度

您还可以

推荐专利