• 专利申请
    2013-03-22
  • 公布公告
    2016-03-09
  • 授权日期
    2016-03-09
  • 终止
    2026-03-07
一种激光测厚方法及装置
一种激光测厚方法及装置
* 专利信息仅供参考,不具有法律效力。 有效专利
CN201310094889.X 2013-03-22 G01B11/06 {{ classMap["G01B11/06"] }}
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浙江省杭州市下沙高教园区2号大街5号
专利分类项目
专利注册信息
初审公告期号 2013-03-22 初审公告日期 2016-03-09
注册公告期号 2016-03-09 注册公告日期 2016-03-09
专用权期限 2016-03-09 - 2026-03-07 专利类型 发明授权
代理组织机构 杭州天勤知识产权代理有限公司 查看该机构代理的所有专利
专利介绍
本发明公开了一种激光测厚方法及装置,方法包括如下步骤:(1)采集基准面所返回的激光光斑的图像数据;(2)对所述激光光斑的图像数据进行预处理后,再进行粗定位,得到粗定位后的光斑中心像素点xi;(3)以xi为中心确定一单峰区域,对单峰区域内的若干个数据点进行细定位,得到细定位后的光斑中心,记为x1;(4)再次采集待测物体所返回的激光光斑的图像数据,重复步骤(2)和(3)得到待测物体的细定位后的光斑中心,记为x2,待测物体和基准面的光斑中心的位移z=|x1-x2|;(5)根据位移z计算出待测物体的厚度y。本发明基于CCD及嵌入式ARM算法处理,速度快、精度高,能够实现在线测量。
法律进度
  • 2016-03-09 授权 ...

  • 2013-08-21 实质审查的生效 IPC(主分类): G01B 11/06 专利申请号: 201310094889.X 申请日: 2013. ...

  • 2013-07-24 公开 ...

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